BEGIN:VCALENDAR VERSION:2.0 PRODID:-//Vrije Universiteit Amsterdam//NONSGML v1.0//EN NAME:Promotie M. Illienko METHOD:PUBLISH BEGIN:VEVENT DTSTART:20260608T114500 DTEND:20260608T131500 DTSTAMP:20260608T114500 UID:promotie-m-illienko@8F96275E-9F55-4B3F-A143-836282E12573 CREATED:20260924T234611 LOCATION:Hoofdgebouw VU, 1105, Auditorium, De Boelelaan, 1081 HV, Amsterdam SUMMARY:Promotie M. Illienko X-ALT-DESC;FMTTYPE=text/html:

Picosecond Ultrasoni cs for Nanoscale Subsurface Structural Characterization

M et geluid door metaal kijken: nieuwe lasertechniek onthult verborgen nanostructuren

Het onderzoek richt zich op zogenoemde picoseconde-ultrasound, een vorm van hypersound waarbij geluidsgolve n met extreem hoge frequenties worden opgewekt door ultrasnelle laser s. Waar licht vaak wordt tegengehouden door materialen zoals metaal, kunnen geluidsgolven daar wel doorheen reizen. Dat principe vormt de basis van de nieuwe beeldvormingstechniek.

Illienko slaagde eri n nanostructuren onder metaallagen te detecteren en te karakteriseren . Deze structuren zijn kleiner dan een honderdste van de dikte van ee n mensenhaar en zo klein dat conventioneel licht ze niet kan ondersch eiden. Volgens hem opent dit nieuwe mogelijkheden om objecten te onde rzoeken die tot nu toe verborgen bleven voor bestaande meetmethoden.< /p>

Naast de praktische demonstratie onderzocht Illienko ook hoe hy persound precies wordt gegenereerd en gemeten met ultrasnelle lasers. Dat proces blijkt complex, maar een beter begrip ervan kan leiden to t snellere en nauwkeurigere metingen op nanoschaal.

De uitkomst en zijn interessant voor de halfgeleiderindustrie. Fabrikanten van ch ips voor smartphones, computers en andere elektronische apparaten moe ten tijdens het productieproces voortdurend controleren of de interne structuren van chips correct worden opgebouwd. Naarmate chips kleine r en ingewikkelder worden, neemt ook de behoefte toe aan technieken d ie onder het oppervlak kunnen kijken zonder het materiaal te beschadi gen.

Traditionele optische inspectiemethoden lopen daarbij tege n grenzen aan, omdat licht moeilijk door ondoorzichtige materialen he en dringt. De nieuwe methode gebruikt juist geluidsgolven, die dieper kunnen doordringen. Daardoor kan de techniek in de toekomst helpen b ij het inspecteren van de volgende generatie halfgeleiders en elektro nische componenten.

Volgens Illienko biedt de technologie uitei ndelijk perspectief op efficiëntere kwaliteitscontrole, betrouwbaard ere chips en verdere miniaturisatie van elektronica.

Meer infor matie over het proefschrift

DESCRIPTION: Picosecond Ultrasonics for Nanoscale Subsurface Structura l Characterization

Met geluid door metaal kijken: nieuwe lasertec hniek onthult verborgen nanostructuren

Natuurkundige Maksym Illie nko ontwikkelde een nieuwe techniek waarmee verborgen nanostructuren zichtbaar kunnen worden gemaakt met behulp van geluidsgolven en ultra snelle lasers. De methode maakt het mogelijk om extreem kleine struct uren onder ondoorzichtige materialen te detecteren - zelfs wanneer di e met gewone microscopen onzichtbaar blijven.Het onderzoek richt zich op zogenoemde picoseconde-ultrasound, een vorm van hypersound waarbi j geluidsgolven met extreem hoge frequenties worden opgewekt door ult rasnelle lasers. Waar licht vaak wordt tegengehouden door materialen zoals metaal, kunnen geluidsgolven daar wel doorheen reizen. Dat prin cipe vormt de basis van de nieuwe beeldvormingstechniek.Illienko slaa gde erin nanostructuren onder metaallagen te detecteren en te karakte riseren. Deze structuren zijn kleiner dan een honderdste van de dikte van een mensenhaar en zo klein dat conventioneel licht ze niet kan o nderscheiden. Volgens hem opent dit nieuwe mogelijkheden om objecten te onderzoeken die tot nu toe verborgen bleven voor bestaande meetmet hoden.Naast de praktische demonstratie onderzocht Illienko ook hoe hy persound precies wordt gegenereerd en gemeten met ultrasnelle lasers. Dat proces blijkt complex, maar een beter begrip ervan kan leiden to t snellere en nauwkeurigere metingen op nanoschaal.De uitkomsten zijn interessant voor de halfgeleiderindustrie. Fabrikanten van chips voo r smartphones, computers en andere elektronische apparaten moeten tij dens het productieproces voortdurend controleren of de interne struct uren van chips correct worden opgebouwd. Naarmate chips kleiner en in gewikkelder worden, neemt ook de behoefte toe aan technieken die onde r het oppervlak kunnen kijken zonder het materiaal te beschadigen.Tra ditionele optische inspectiemethoden lopen daarbij tegen grenzen aan, omdat licht moeilijk door ondoorzichtige materialen heen dringt. De nieuwe methode gebruikt juist geluidsgolven, die dieper kunnen doordr ingen. Daardoor kan de techniek in de toekomst helpen bij het inspect eren van de volgende generatie halfgeleiders en elektronische compone nten.Volgens Illienko biedt de technologie uiteindelijk perspectief o p efficiëntere kwaliteitscontrole, betrouwbaardere chips en verdere miniaturisatie van elektronica.Meer informatie over het proefschr ift END:VEVENT END:VCALENDAR